全書內(nèi)容包括微波輻射基礎(chǔ)、微波信號源、微波傳感器、微波元件、介質(zhì)特性微波測量、微波與物質(zhì)相互作用、微波檢測基本原理、微波檢測主要方法、微波檢測儀器設(shè)備、微波檢測應(yīng)用、微波成像及其在檢測中的應(yīng)用等。
基本信息
作 者：周在杞，周克印，許會 編著
出 版 社：化學(xué)工業(yè)出版社
出版時(shí)間：2008-1-1
版 次：1頁 數(shù)：507字 數(shù)：441000印刷時(shí)間：2008-1-1開 本：32開紙 張：膠版紙印 次：1I S B N：9787122009210包 裝：平裝
內(nèi)容簡介
本書根據(jù)作者多年科研成果總結(jié)并參考國內(nèi)外該領(lǐng)域的相關(guān)資料編寫而成。
全書取材先進(jìn)，內(nèi)容新穎，資料翔實(shí)，條理清晰，理論聯(lián)系實(shí)際，既論及微波與物質(zhì)相互作用機(jī)理，又重視微波檢測方法及其應(yīng)用實(shí)例。
本書的主要讀者對象為化工、機(jī)械、電力、冶金、石油、地質(zhì)、礦業(yè)、交通以及國防工業(yè)等從事無損檢測、地球物理學(xué)研究和復(fù)合材料工程質(zhì)量安全控制的廣大企事業(yè)工程技術(shù)人員。也可作為高等院校電子信息工程和測控與儀器儀表類的專業(yè)課程教材使用。
目錄
符號表
第一章 緒論
第一節(jié) 概述
一、微波
二、微波的基本特點(diǎn)
三、微波的應(yīng)用范圍
第二節(jié) 微波檢測的特點(diǎn)
第二章 微波輻射基礎(chǔ)
第一節(jié) 微波輻射
一、微波輻射
二、微波天線
第二節(jié) 微波輻射方向圖測量
一、天線輻射場區(qū)
二、天線方向圖測量
第三章 微波信號源
第一節(jié) 微波振蕩器分類
一、概述
二、分類
第二節(jié) 微波固態(tài)信號源
二、體效應(yīng)二極管振蕩源
三、負(fù)阻振蕩器的頻率調(diào)諧
第四章 微波傳感器
第一節(jié) 微波傳感器的分類
一、概述
二、分類
第二節(jié) 微波傳感器
一、常用微波傳感器
二、微帶傳感器
第五章 微波元件
第一節(jié) 概述
一、分類
二、用途
第二節(jié) 常用微波元件
一、連接元件
二、轉(zhuǎn)換元件
三、短路活塞
四、微波電阻
五、相移器
六、微波橋路
七、阻抗變換器
八、檢波器
九、定向耦合器
第六章 介質(zhì)特性微波測量
第一節(jié) 概述
第二節(jié) 介質(zhì)特性參數(shù)測量
一、波導(dǎo)股份法
二、終端短路法
三、終端短路法測量結(jié)果的近似計(jì)算
四、終端短路“開路”法
五、長試樣法
六、網(wǎng)絡(luò)法
七、介質(zhì)試樣的制備
八、按波導(dǎo)法測量介電常數(shù)時(shí)的誤差
九、諧振空腔法測量技術(shù)
十、在H01n諧振器中測量盤形介質(zhì)試樣
十一、在H01n諧振器中測量桿形介質(zhì)試樣132
十二、在E01n諧振器中測量桿形介質(zhì)試樣135
十三、在諧振器中測量小試樣（微擾法）136
第七章微波與物質(zhì)相互作用141
第一節(jié)介電常數(shù)與介質(zhì)損耗角正切141
一、介電常數(shù)與介質(zhì)極化141
二、介電常數(shù)與介質(zhì)損耗角正切141
第二節(jié)地物、大氣的微波特性145
一、物體的電磁波譜特性145
二、大氣對微波傳播的影響146
三、地物對微波的作用146
第三節(jié)各向異性系統(tǒng)與微波的相互作用147
一、均勻電子注中的電子波147
二、磁化鐵氧體中的均勻波149
第四節(jié)微波與等離子體的相互作用153
二、磁場效應(yīng)158
三、離子運(yùn)動、碰撞和溫度效應(yīng)164
第八章微波檢測基本原理168
第一節(jié)諧變電磁場中的媒質(zhì)特性168
一、復(fù)介電常數(shù)的概念168
二、媒質(zhì)的介電頻率特性170
三、媒質(zhì)的導(dǎo)電頻率特性 175
四、媒質(zhì)的分類176
第二節(jié)微波在無界均勻介質(zhì)中的傳播178
一、理想介質(zhì)中的均勻平面波178
二、有耗介質(zhì)中的均勻平面波180
第三節(jié)微波在半無界均勻介質(zhì)平面上的反射與折射183
一、對介質(zhì)平面的垂直入射183
二、對介質(zhì)平面的斜入射188
第四節(jié)微波對單層介質(zhì)板的反射與透射191
一、反射系數(shù)與透射系數(shù)191
二、垂直入射情況的討論197
第五節(jié)微波對多層介質(zhì)板的反射與透射202
一、特征矩陣202
二、反射系數(shù)與透射系數(shù)205
三、對稱三層介質(zhì)板無反射公式206
第六節(jié)微波垂直入射到平面多層旋波媒質(zhì)的反射209
一、概述209
二、平面多層旋波媒質(zhì)的反射209
三、數(shù)值計(jì)算及分析210
第七節(jié)復(fù)數(shù)折射角物理論析213
一、從無耗介質(zhì)入射到有耗介質(zhì)213
二、從有耗介質(zhì)入射到無耗介質(zhì)214
三、全反射215
四、入射角為復(fù)數(shù)，介質(zhì)1、介質(zhì)2均為有耗情況216
第八節(jié)微波在各向異性媒質(zhì)中傳播218
第九節(jié)脈沖波在色散媒質(zhì)中傳播220
一、色散媒質(zhì)差分迭代公式220
二、色散媒質(zhì)脈沖波傳播221
三、地下目標(biāo)回波模擬計(jì)算222
第十節(jié)微波檢測的物理特性224
一、微波檢測的物理基礎(chǔ)224
二、微波的似光性和近聲性235
三、各種檢測原理比較237
第九章微波檢測主要方法239
第一節(jié)微波檢測方法分類239
第二節(jié)微波檢測主要方法241
一、微波穿透法241
二、微波反射法245
三、微波散射法249
四、微波干涉法250
五、微波渦流法257
六、微波層析法258
第十章微波檢測儀器設(shè)備260
第一節(jié)概述260
一、系統(tǒng)組成260
二、微波傳感器261
第二節(jié)微波測濕儀272
一、微波濕度傳感器272
二、微波測濕儀273
第三節(jié)微波測厚儀278
一、金屬測厚儀278
二、非金屬測厚儀282
第四節(jié)微波檢測儀286
一、微波探傷儀286
二、微波檢測儀287
第五節(jié)微波輻射計(jì)297
第六節(jié)微波干涉儀300
一、概述300
二、微波調(diào)制式條紋移動干涉儀305
三、相位調(diào)制式條紋移動干涉儀307
四、極圖顯示型干涉儀307
五、直接讀出相移的干涉儀307
六、多道干涉儀308
七、數(shù)字微波干涉儀308
第七節(jié)微波反射計(jì)309
一、時(shí)域反射計(jì)309
二、微波探地雷達(dá)313
三、掃頻反射計(jì)315
第八節(jié)微波測試儀332
一、微波鑒頻儀332
二、微波測碳儀337
三、微波煤粉流量計(jì)342
四、微波火檢監(jiān)測裝置344
五、微波應(yīng)答器閱讀器348
六、微波介電常數(shù)測試儀354
七、毫米波光譜儀357
八、微波載流子壽命測定儀359
九、其他360
第十一章微波檢測應(yīng)用364
第一節(jié)概述364
第二節(jié)微波檢測應(yīng)用實(shí)例365
一、微波測濕365
二、微波測厚373
三、不連續(xù)性檢測384
四、評價(jià)材料結(jié)構(gòu)的完整性390
五、微波測溫408
六、微波測速412
七、液位、料位和距離的檢測421
八、等離子體微波診斷427
九、微波全息436
十、其他應(yīng)用440
十一、新的T射線(亞毫米波)的應(yīng)用451
第十二章微波成像及其在檢測中的應(yīng)用453
第一節(jié)微波成像技術(shù)453
第二節(jié)探地雷達(dá)成像技術(shù)455
一、基本原理455
二、探測方法456
三、探地雷達(dá)圖像的信息處理458
四、探地雷達(dá)的應(yīng)用條件及波形特征459
五、研究熱點(diǎn)460
六、探地雷達(dá)產(chǎn)品及應(yīng)用實(shí)例460
第三節(jié)微波斷層成像技術(shù)464
一、技術(shù)起源464
二、發(fā)展現(xiàn)狀與展望464
第四節(jié)微波斷層成像機(jī)理465
一、基本原理465
二、電磁散射的數(shù)學(xué)模型466
第五節(jié)微波斷層成像算法471
一、譜域成像算法471
二、非迭代空域成像算法480
三、迭代空域成像算法482
第六節(jié)實(shí)驗(yàn)及仿真結(jié)果491
一、譜域重建實(shí)驗(yàn)491
二、DBIM、LSF法成像實(shí)驗(yàn)結(jié)果492
三、有限元共軛梯度法仿真試驗(yàn)結(jié)果492
四、LevenbergMarquardt方法圖像重建493
五、ART算法圖像重建496
六、GA圖像重建497
附錄499
參考文獻(xiàn)504
參考資料 >
3.3.2018-10-18