光片，外文名polished section，是一面被磨平并拋光過的礦石小標本。工藝礦石應磨制成長方形光片，磨光面要求平滑如鏡，硬礦物和軟礦物的相對突起不過于明顯，不應有小坑，細裂縫或擦痕存在。碎屑礦物用各種膠結物如電木粉膠結后也可磨成光片，光片只需要把巖石表面拋光。光片的質量好壞直接影響鑒定工作。
概述
學科：巖礦分析與鑒定
詞目：光片
英文：polished section
簡介
在偏光顯微鏡及反光顯微鏡下研究工藝巖石（爐渣等）、工藝礦石（燒結礦、球團礦）以及天然巖石的礦物組成、晶體大小、含量及其結構、構造特征時，必須將上述樣品磨制成高質量的光片、光薄片及薄片等礦片。礦片的磨制質量對鑒定礦物和觀察結構特征影響極大，如果磨制的礦片質量不好，常常會影響鑒定工作的準確性。因此，必須學會磨制高質量的光片、薄片。
光片的磨制
工藝礦石（人造富礦）或天然礦石的不透明礦物或半透明礦物，如磁鐵礦、赤鐵礦及褐鐵礦等金屬礦物，應磨制成一個大約為2CM×1.5CM×1CM的長方形光片。礦石光片的磨制過程如下。
（1）樣品準備選擇有代表性的鐵礦石或人造富礦等樣品。十分致密而堅固的樣品可直接磨制；疏松散粒的樣品，可先用樹膠膠結加固后，再進行磨制。磨制光片所用礦石塊，可先用切片機，將礦塊切成略天于2CM×1.5CM×1CM（或2.5CM×1.5CM×1CM）長方形礦石塊，然后進行磨制。
（2）粗磨將切下的礦石塊放在磨片機上進行精磨，選用120號～150號碳化硅把礦石磨成2CM×1.5CM×1CM至2.5CM×1.5CM×1CM的長方形礦石光片，然后再用清水洗凈。
（3）細磨為了防止光片在細磨時有疏松碎屑掉下，在細磨前要用樹膠膠結，再用400號～500號金剛砂在細而平的鐵盤上進行細磨，直到把粗磨痕跡磨去為止，而后用清水洗凈，洗凈后換用800號～1000號的金剛砂進行研磨，直到把400號～500號金剛砂細磨留下的痕跡磨去為止，用清水洗凈。最后用氧化鋁泥漿在玻璃板上精磨，磨到削除所有擦痕，使光片表面光滑有發光感覺時，再用清水洗凈。
（4）拋光將磨好的光片在拋光機上拋光。拋光時可根據礦物軟硬程度不同，選擇不同的磨料和拋光布。一般陸地工人礦石，如鐵礦石、燒結礦和球團礦等用三氧化二鉻粉在絲絨上進行拋光，效果很好。光片拋光后在清水中漂洗，再用干絲絨和鹿皮把光面輕輕擦干，切忌用手摸。
（5）編號光片磨成之后，必須隨即編號，以免混淆。編號時，可先在光片的側面或底面涂上白漆，然后以繪圖墨水或黑、紅油漆寫上編號。這些工作做完后，即可供礦相顯微鏡觀察、鑒定和研究。人造富礦光片用完后，最好放在干燥保存，以免光片粉化。
光薄片的磨制
準確地鑒定天然礦石、人造富礦中的透明礦物和半透明礦物（如橄欖石、硅灰石及鐵酸鈣等）的組成和它們與不透明礦物之間的關系，需要制成樣品厚度為0.03MM的透明光薄片。制作方法是把礦石切成略大于2.5CM×1.5CM×1CM的長方形或其他形狀的礦塊，先將其一面粗磨；細磨直到玻璃板上細磨后，在清水中清洗。用固體光學樹膠，把細拋光面粘在玻璃片上，再反過來經粗磨到細磨一直磨到厚度為0.03MM，然后在拋光機上拋光，制成既當薄片用（用以在偏光顯微鏡下鑒定透明礦物或半透明礦物），同時又能當光片用（用以在礦相顯微鏡下鑒定不透明礦物）的光薄片。這種光薄片可以在同一片子上研究不透明礦物和透明礦物或半透明礦物的相互關系。對研究人造富礦來說，制成薄片易于保豐，放在干燥器中長久保存不致粉碎。
薄片的磨制
薄片是用以在偏光顯微鏡下研究天然巖石、礦石及工藝巖石、礦石中的透明礦物的片子。樣品準備和磨制過程基本上與光薄片同。只是樣品磨到厚度為0.03MM后，不必拋光，但是要用液體光學樹膠把蓋玻片粘在礦片的表面上。薄片是由很薄的礦片、載玻片及蓋玻片所組成。疏松樣品在磨制薄片前，須浸在樹膠中煮膠，然后再制成薄片。
在磨制自熔性或高堿度燒結礦以及某些工藝巖石的薄片時，由于其中有些礦物易被水浸蝕，可考慮用煤油或乙醇等作為細磨時的研磨劑。
光片和薄片的區別
1、切片方式不同
薄片要把巖石切至0.03mm以下，用樹膠貼在載玻片下便于觀察巖石的礦物組成等巖相學和巖組學特征。光片不需要載玻片或是蓋玻片，只需要把巖石表面拋光。
2、實驗儀器不同
薄片：主要用透射光顯微鏡 光片：用反射光顯微鏡。不過現在高級的顯微鏡同時配備有透射和反射光路。
3、磨片目的不同
薄片：主要是對巖石中的透明礦物進行觀察，適用于一般巖石。但是若巖石中含有金屬礦物，等無法判別。
巖礦薄片、光片鑒定樣品及標本采集
1.樣品規格：
陳列標本的大小不應小于3×6×225px；供薄片、光片鑒定用樣品以能滿足切制光片、薄片及手標本觀察的需要為原則，規格不限。
2.采樣要求
①沉積巖 對工作區內各時代地層的每一種代表性巖石均應按地層層序系統采樣，同時也要適當采集能反映沿走向變化情況的樣品；有沉積礦產的地段和沉積韻律發育地段，應視研究的需要而加密采樣點。
②巖漿巖 在每個巖體中按相帶系統采集各種代表性巖石樣品，在各相帶間的過度地段應加密采樣點；對巖體的下列地段及地質體均應采集樣品：析離體、捕擄體、同化混染帶、脈巖、巖體各類圍巖、接觸變質帶、巖體冷凝邊等；對各種類型的火山巖，按其層序及巖性，沿走向和傾向系統采樣。
③變質巖 根據巖石變質程度按剖面系統采樣，并注意樣品中應含有劃分變質帶的標志礦物；對不同夾層、殘留體（由邊緣至中心）、各種混合巖應系統地分別采樣。
④礦石
應按不同自然類型、工業類型、礦化期次、礦物共生組合、結構、構造、圍巖蝕變的礦石，以及根據礦石中各有用礦物的相互關系，有用礦物與脈石礦物的相互關系等特征分別采集礦石樣品。對于礦石類型復雜，礦物組合變化大的礦體，還應選擇有代表性的剖面系統采樣，以便研究礦石的變化規律。在對礦石采集光片鑒定樣品的同時，為研究其中透明礦物及其與金屬礦物的關系，應注意適當采集薄片、光薄片鑒定樣品。
當對各類巖石和礦石采集化學全分析樣品，同位素地質年齡測定樣品時，應同時采集巖礦鑒定樣品。應注意采集反映構造特征的標本，若小型標本不足以反映巖石、礦石的特殊構造時，可根據需要采集大型標本；若采集定向標本，則應注明產狀方位；采集極疏松和多孔樣品時，可先用丙酮膠（廢膠卷溶于丙制成）浸透巖石、礦石，待膠結干涸后再采集樣品。無特殊情況（如研究風化巖石、礦石），一般應采集新鮮樣品。對于巖石標本，有時可適當保留部分風化面，以便更好地再現它的野外直觀特征。
3.樣品的編錄
樣品采集后，應在采樣現場按采樣目的，將欲切制成光片、薄片等部位，用醒目的色筆圈出。在一般情況下，應使切片平面垂直于層理、礦脈等延向。然后編號、登記、填寫標簽（同時注明切片種類、數量）等，尤其須在記錄本上注明采樣位置、編號、采樣目的等。
參考資料 >