晶片是LED最主要的原物料之一，是LED的發(fā)光部件，LED最核心的部分，晶片的好壞將直接決定LED的性能。晶片的組成由Ⅲ和Ⅴ族復(fù)合半導(dǎo)體物質(zhì)構(gòu)成。在led封裝時，晶片來料呈整齊排列在晶片膜上。
作用
晶片為LED的主要原材料，LED主要依靠晶片來發(fā)光.
組成
主要有砷[shēn](AS)、鋁(AL)、鎵(Ga)、銦[yīn](IN)、磷(P)、氮(N)、鍶[sī](Sr)這幾種元素中的若干種組成.
分類
1.按發(fā)光亮度分:
A.一般亮度:R﹑H﹑G﹑Y﹑E等.
B.高亮度:VG﹑VY﹑SR等
C.超高亮度:UG﹑UY﹑UR﹑UYS﹑URF﹑UE等
D.不可見光(紅外線):IR﹑SIR﹑VIR﹑HIR
E.紅外線接收管:PT
F.光電管:PD
2.按組成元素分:
A.二元晶片(磷﹑鎵):H﹑G等
B.三元晶片（磷﹑鎵﹑砷）:SR﹑HR﹑UR等
C.四元晶片(磷﹑鋁﹑鎵﹑銦):SRF﹑HRF﹑URF﹑VY﹑HY﹑UY﹑UYS﹑UE﹑HE、UG等
特性表
晶片型號發(fā)光顏色組成元素波長(nm)晶片型號發(fā)光顏色組成元素波長(nm)
SBI藍(lán)色lnGaN/碳化硅430HY超亮黃色AlGalnP595
SBK較亮藍(lán)色lnGaN/sic468SE高亮桔色GaAsP/GaP610
DBK較亮藍(lán)色GaunN/Gan470HE超亮桔色AlGalnP620
SGL青綠色lnGaN/sic502UE最亮桔色AlGalnP620
DGL較亮青綠色LnGaN/GaN505URF最亮紅色AlGalnP630
DGM較亮青綠色lnGaN523E桔色GaAsP/GaP635
PG純綠GaP555R紅色GAaAsP655
SG標(biāo)準(zhǔn)綠GaP560SR較亮紅色GaA/AS660
G綠色GaP565HR超亮紅色GaAlAs660
VG較亮綠色GaP565UR最亮紅色GaAlAs660
UG最亮綠色AIGalnP574H高紅GaP697
Y黃色GaAsP/GaP585HIR紅外線GaAlAs850
VY較亮黃色GaAsP/GaP585SIR紅外線GaAlAs880
UYS最亮黃色AlGalnP587VIR紅外線GaAlAs940
UY最亮黃色AlGalnP595IR紅外線GaAs940
注意事項
1.晶片廠商名稱:A.光磊(ED)B.國聯(lián)(FPD)C.鼎元(TK)D.華上(AOC)
E.漢光(HL)FAXTG.廣稼
2.晶片在生產(chǎn)使用過程中需注意靜電防護(hù).
結(jié)構(gòu)
單晶片結(jié)構(gòu)和雙晶片結(jié)構(gòu)如圖所示。
參數(shù)
晶片外觀
晶片形狀為正方形或長方形，上表面有單電極或雙電極，
紅光與黃光晶片多數(shù)為單電極晶片，且上表面有正或負(fù)極。
藍(lán)/綠晶片多數(shù)為雙電極，且一般圓形電極為正極。具體電極情況請參照晶片規(guī)格書。
晶片尺寸
晶片按尺寸分，較常用的有以下規(guī)格
(1mil=25.4μm)
小尺寸
7*9mil
9*11mil
12*12密爾沃基雄鹿隊
10*18mil
14*14mil
15*15mil
10*23min
大尺寸
24*24mil
28*28mil
40*40mil
45*45mil
60*60mil
光電參數(shù)
評估
1.評估流程:
來料檢驗==>安排試產(chǎn)==>固晶實驗==>焊線實驗==>老化實驗==>不良分析==>OK/NG
2.檢驗項目包括：
2.1、來料資料有無規(guī)格書（沒有規(guī)格書不建議盲目的去實驗）；
2.2、來料的芯片參數(shù)（亮度、電壓、波長等）是否符合規(guī)格要求，
外觀（電極位置）是否與規(guī)格書上相同；
2.3、尺寸測量：需要采用精確的高倍顯微鏡進(jìn)行測量，實際尺寸
是否符合要求；包括芯片的長、寬、高、電極大小等
2.4、電性檢測：VF、IV、WL、IR、極性等實際測試是否符合要求。
此項有很多廠商沒有條件測試，建議在試做過程中去做成成
品測試（但極性最好先進(jìn)行確認(rèn)）；
3、試產(chǎn)
外觀檢查OK后就開始進(jìn)行排單實驗其他性能是否適合
批量投產(chǎn)，排單時準(zhǔn)備好相關(guān)資料與試產(chǎn)資料
4、固晶評估項目：
a.PR識別的能力
b.氣壓壓力
c.頂針高度
d.吸嘴大小
e.焊頭壓力
f.芯片膜的粘性
g.產(chǎn)能如何等，
h.推力（推后現(xiàn)象）
若有問題均要有記錄。
焊線評估項目：
a.焊線壓力
b.功率
c.時間
d.焊線熱板溫度
e.PR識別能力
f.弧高
g.金球獎大小
h.產(chǎn)能
i.拉力大小（斷點位置）
若有問題均要有記錄。
老化實驗
a.電性測試(包括ESD)；
b.按信賴性實驗標(biāo)準(zhǔn)取材料準(zhǔn)備分別做以下實驗：
實驗前產(chǎn)品需要編號測試VF/IR/IV/WL性能，產(chǎn)品要與數(shù)據(jù)對應(yīng)），
實驗一：常溫點亮保存（條件Ta=25±5℃，RH=55±20%RH，
20mA通電1000hrs）
實驗二：高溫高濕點亮（條件Ta=85+5、-3℃，RH=85%+5、-10%，
20mA通電1000hrs）
實驗三：冷熱沖擊[條件Ta=85℃(30分鐘)～Ta=25℃(30分鐘）
～Ta=-40℃(30分鐘)～Ta=85℃(30分鐘)]
其他實驗可以根據(jù)自己的需要進(jìn)行選擇；
實驗過程中每100/168小時測試一次；
所有不良品均要分析。
參考資料 >