來源：互聯網
二十二碳烯酸（２２－ＴＡ）粉末樣品及其ＬＢ膜退火前后的Ｘ光電子能譜，研究了基分子結構的熱穩定性；采用Ｘ光小角衍射測量了２２－ＴＡＬＢ膜的晶狀主其常溫下隨時間的變化，分析了這種熱誘導變化的產生原因。
正文
二十二碳烯酸（22－TA）粉末樣品及其LB膜退火前后的X光電子能譜，研究了基分子結構的熱穩定性；采用X光小角衍射測量了22－TALB膜的晶狀主其常溫下隨時間的變化，分析了這種熱誘導變化的產生原因。
參考資料 >
二十二碳烯酸（２２－ＴＡ）粉末樣品及其ＬＢ膜退火前后的Ｘ光電子能譜，研究了基分子結構的熱穩定性；采用Ｘ光小角衍射測量了２２－ＴＡＬＢ膜的晶狀主其常溫下隨時間的變化，分析了這種熱誘導變化的產生原因。
二十二碳烯酸（22－TA）粉末樣品及其LB膜退火前后的X光電子能譜，研究了基分子結構的熱穩定性；采用X光小角衍射測量了22－TALB膜的晶狀主其常溫下隨時間的變化，分析了這種熱誘導變化的產生原因。
參考資料 >